芯片加速老化試驗機采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，降低了使用故障率。獨立蒸汽發生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞。門鎖省力結構，解決產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計（試驗桶內空氣排出）提高壓力穩定性、再現性. 超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉400小時.水位保。

ED HALT—300SQHAST試驗機廣泛應用于醫療器件消毒，工業上線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測.也可運用于航天航空、軍工、云端電腦、攝相機、汽機車、電動車、高鐵動車、船舶、彩電家電等. 電磁式多軸向多自由度---高加速應力篩選機 ED HALT—300SQ / 400SQ / 900SQ / 1200SQ 高效率、低噪度、﹗